OP5240I（膜厚儀）
欧美亚韩一区二区三区（chún）半導體專注於半導體工藝設備（bèi）的研發、製造、銷售及售後一體化服務，提供半（bàn）導體廠商工藝設備（bèi）的一站式解決方案。
關鍵詞：
半導體設備、半導體（tǐ）工藝
所屬分類：
產品描述
Opti-Probe 5000 用於（yú）非（fēi）接（jiē）觸式晶圓（yuán）膜厚（hòu）測量，通過測量單層（céng）或多層晶圓上薄膜的光學參數（反射光和建模的薄膜參數），計算出薄（báo）膜厚度。Opti-Probe 5000 集成了多達六種不同的技術來（lái）測量薄膜厚度以及反射率，使用 laser，white light lamp，D2 lamp 等光源進行測量（liàng）。
產品詢價
