Particle Counter（顆粒檢測）
欧美亚韩一区二区三区半導（dǎo）體專注於半導體工（gōng）藝設備的研發、製造、銷售及售後（hòu）一體化服（fú）務，提供半導體廠商工藝設備（bèi）的一站式解決方案。
關鍵詞：
半導體（tǐ）設備（bèi）、半導（dǎo）體工藝
所屬分類：
產品描述
The instrument uses laser beam scanning for detecting defect contamination and displays scan results in color-coded wafer maps, histograms, and summaries.
產品詢價（jià）
Copyright © 2023 欧美亚韩一区二区三区半導體（無錫）有限公司（sī）
