OP5340（膜厚儀）
欧美亚韩一区二区三区半導體專（zhuān）注於半導體工藝（yì）設（shè）備的研發、製造、銷售及售（shòu）後一體化服務，提供（gòng）半導體廠商工藝設備的一站式解決方案。
關鍵詞：
半導體設備、半（bàn）導體（tǐ）工藝
所屬分類：
產（chǎn）品描述
Opti-Probe 5000 用於（yú）非接觸式晶圓膜厚測量，通過測（cè）量單層或多層晶圓上薄膜（mó）的光學參（cān）數（反（fǎn）射（shè）光和建模的薄膜參數），計（jì）算出薄膜厚度。Opti-Probe 5000 集（jí）成了多達六種不同的技術來測量薄膜厚（hòu）度以及反射率，使用 laser，white light lamp，D2 lamp 等光源（yuán）進（jìn）行測量。
產品詢價
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