網站(zhàn)首頁
產品中(zhōng)心
自研產(chǎn)品
新設備代理
再製(zhì)造設備
關於我們
公司簡介
企業文化
企業(yè)實力
合作品牌
應用領域
招(zhāo)賢納士
新聞中心
公司新聞(wén)
行業新聞
聯係我們
CONTACT US
Therma Wave
關鍵詞:
Dark Field(暗場缺陷(xiàn)檢測)
材料
納米
厚度
質量
Bright Field(明場缺陷檢測)
技術
納(nà)米
微米
半導體
最新(xīn)產品(pǐn)
光纖光柵測溫及真空(kōng)檢測係統
光纖光柵測溫及真空檢(jiǎn)測係統
MIS MARS X8 Plus(15寸大物體(tǐ)非破壞電子束微檢測係統)
Scrubber(尾氣處理設備)
Dark Field(暗場缺陷檢測)
Particle Counter(顆粒檢測)
Stress(應力檢測)
CDSEM(線寬檢測)
Review SEM(複檢電鏡)
最新新聞
探索(suǒ)半(bàn)導體設備行業動態的未來趨勢
探索半導體設備的行業解決方案
半導體設備的奧秘與未來發展
探討半導體工藝的未來行業方案
探索半導(dǎo)體設備的多元應用場景
掌握半導體設備使用的(de)注意事項
快速導航
產品中心
自研產品
再製造設備(bèi)
招賢納士
公司地址:無(wú)錫市新吳區(qū)珠江路95-2號(hào)A棟四樓
電話:0510-88350068
郵箱:inform@kratos.com.cn
Copyright © 2023 欧美亚韩一区二区三区半導體(無錫)有限(xiàn)公司
網站建設:中企動力(lì) 無錫 | SEO