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欧美亚韩一区二区三区半導體（無錫）有限公（gōng）司

地址：無錫市新（xīn）吳區珠江路95-2號A棟四樓（lóu）
電話：0510-88350068
郵箱：inform@kratos.com.cn

量測設備

Dark Field（暗場缺陷檢測）

Dark Field（暗場（chǎng）缺陷檢測）

Bright Field（明場缺陷檢（jiǎn）測）

Bright Field（明場缺陷檢測）

Particle Counter（顆粒檢（jiǎn）測）

Particle Counter（顆粒檢測）

Stress（應力檢測）

Stress（應力檢測）

CDSEM（線寬（kuān）檢測）

CDSEM（線寬檢測）

Review SEM（複檢電鏡）

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OP5240I（膜厚儀）

OP5240I（膜（mó）厚儀）

OP5340（膜厚儀）

OP5340（膜厚儀）

TP630（離子注（zhù）入）

TP630（離子（zǐ）注入）

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快速導航

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再製造設備

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